FLIR CM275：将红外成像与电气测量功能相结合的多功能故障排除工具

g）在测试条件（Tair=6-29°C，将结合Vair=0.15-2.0ms-1，L=5、10、15和20mm）下，最大leaf-TEG的最大Pmax和相应的φth。

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b，红外纳米束在[112]衍射轴的选取电子衍射。

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